測試項(xiàng)目
特殊功耗分兩檔0.00-200.00uA，0.0-2000.0uA
靜態(tài)自耗電測試 分兩檔0.00-200.00uA，0.0-2000.0uA
休眠功耗測試 分兩檔0.00-200.00uA，0.0-2000.0uA
正極內(nèi)阻（PTC）測試 分兩檔0.00-100.00mΩ，0.00-1000.00mΩ
負(fù)極內(nèi)阻（MOSFET）測試 分兩檔0.00-100.00mΩ，0.00-1000.00mΩ
導(dǎo)通總阻抗測試
一級，二級過壓保護(hù)延時(shí)時(shí)間測試 0.00-6500.00mS
一級，二級過壓保護(hù)電壓測試 2.0000-5.0000V
一級，二級壓恢復(fù)電壓測試 2.0000-5.0000V
一級，二級欠壓保護(hù)延時(shí)時(shí)間測試 0.00-6500.00mS
一級，二級欠壓保護(hù)電壓測試 2.0000-5.0000V
一級，二級欠壓恢復(fù)電壓測試 2.0000-5.0000V
一級，二級放電過流保護(hù)延時(shí)時(shí)間測試 0.000-1000.000mS
一級，二級放電過流保護(hù)電流測試 0.200-20.000A
一級，二級充電過流保護(hù)延時(shí)時(shí)間測試 0.000-1000.000mS
一級，二級充電過流保護(hù)電流測試 0.200-20.000A
一級，二級短路保護(hù)時(shí)間測試 0.00-1000.00mS
一級，二級低壓充電測試
漏電測試
識別電阻1測試 分4檔0.000-2.000K，20.000K，200.00K，2000.0K
識別電阻2測試 分4檔0.000-2.000K，20.000K，200.00K，2000.0K
識別電阻RP 分4檔0.000-2.000K，20.000K，200.00K，1000.0K
識別電阻RN 分4檔0.000-2.000K，20.000K，200.00K，1000.0K
BQ2022A芯片數(shù)據(jù)燒錄和比對。
BQ27541,BQ27545,BQ27546等Gas Gauge電量管理芯片的燒錄，校準(zhǔn)，驗(yàn)證等
